Formation and Characterization of Multilayer GeSi Nanowires on Miscut Si (001) Substrates
文献类型：期刊论文
| 作者 | Gong, Hua ; Chen, Peixuan ; Ma, Yingjie ; Wang, Lijun ; Rastelli, Armando ; Schmidt, Oliver G. ; Zhong, Zhenyang |
| 刊名 | journal of nanoscience and nanotechnology
 |
| 出版日期 | 2013 |
| 卷号 | 13期号:2页码:834-838 |
| 学科主题 | 半导体材料 |
| 收录类别 | SCI |
| 语种 | 英语 |
| 公开日期 | 2013-09-22 |
| 源URL | [http://ir.semi.ac.cn/handle/172111/24401]  |
| 专题 | 半导体研究所_中科院半导体材料科学重点实验室 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | Gong, Hua,Chen, Peixuan,Ma, Yingjie,et al. Formation and Characterization of Multilayer GeSi Nanowires on Miscut Si (001) Substrates[J]. journal of nanoscience and nanotechnology,2013,13(2):834-838. |
| APA | Gong, Hua.,Chen, Peixuan.,Ma, Yingjie.,Wang, Lijun.,Rastelli, Armando.,...&Zhong, Zhenyang.(2013).Formation and Characterization of Multilayer GeSi Nanowires on Miscut Si (001) Substrates.journal of nanoscience and nanotechnology,13(2),834-838. |
| MLA | Gong, Hua,et al."Formation and Characterization of Multilayer GeSi Nanowires on Miscut Si (001) Substrates".journal of nanoscience and nanotechnology 13.2(2013):834-838. |
入库方式： OAI收割
来源：半导体研究所
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