kaf4301eccd在低温下微光成像特性的实验研究
文献类型：期刊论文
| 作者 | 李彬华2; 魏名智1; 叶彬浔2; 宋谦2 |
| 刊名 | 光学技术
 |
| 出版日期 | 2006 |
| 卷号 | 32期号:1页码:3 |
| ISSN号 | 1002-1582 |
| 英文摘要 | 介绍了实验的原理和方法；重点介绍了在低温下KAF-4301E CCD的成像特性——量子效率（QE）、电荷转移效率（CTE）、读出噪声、暗电流和满阱等的测试结果。实验结果显示，随CCD工作温度降低并超过其最小标称值后,虽然暗流则明显减小，但CTE性能快速变差。从理论上对所得的结果进行了简短的分析和讨论。分析了该型号CCD在微光成像方面的应用前景。 |
| 语种 | 英语 |
| 源URL | [http://ir.bao.ac.cn/handle/114a11/45167]  |
| 专题 | 中国科学院国家天文台 |
| 作者单位 | 1.UCO／Lick Observatory University of California，Santa Cruz, CA 2.中国科学院国家天文台 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 李彬华,魏名智,叶彬浔,等. kaf4301eccd在低温下微光成像特性的实验研究[J]. 光学技术,2006,32(1):3. |
| APA | 李彬华,魏名智,叶彬浔,&宋谦.(2006).kaf4301eccd在低温下微光成像特性的实验研究.光学技术,32(1),3. |
| MLA | 李彬华,et al."kaf4301eccd在低温下微光成像特性的实验研究".光学技术 32.1(2006):3. |
入库方式： OAI收割
来源：国家天文台
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