光线追迹法在双折射滤光器误差分析中的应用
文献类型：期刊论文
| 作者 | 玄伟佳; 王东光 ; 邓元勇; 张志勇; 孙英姿
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| 刊名 | 光学精密工程
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| 出版日期 | 2008 |
| 卷号 | 016期号:005页码:771 |
| ISSN号 | 1004-924X |
| 英文摘要 | 从单轴晶体的双折射性质出发，应用光线追迹方法，研究了滤光器系统中光的传播规律。将光线的传播方向、相位信息和振动状态用人射角、入射光方位角和晶体参量表示出来，结合偏振光的干涉原理，辅以计算机编程，分析了多种误差源对透过带形状的影响。通过与Evans离轴效应公式的对比，得到0．7％的最大相对误差，从而验证了本文方法的正确性，为滤光器的研制提供了可靠依据。 |
| 语种 | 英语 |
| 源URL | [http://ir.bao.ac.cn/handle/114a11/47529]  |
| 专题 | 中国科学院国家天文台 |
| 作者单位 | 中国科学院国家天文台 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 玄伟佳,王东光,邓元勇,等. 光线追迹法在双折射滤光器误差分析中的应用[J]. 光学精密工程,2008,016(005):771. |
| APA | 玄伟佳,王东光,邓元勇,张志勇,&孙英姿.(2008).光线追迹法在双折射滤光器误差分析中的应用.光学精密工程,016(005),771. |
| MLA | 玄伟佳,et al."光线追迹法在双折射滤光器误差分析中的应用".光学精密工程 016.005(2008):771. |
入库方式： OAI收割
来源：国家天文台
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