Gaussian diffraction model for Sb thin films in super-resolution near-field structure
文献类型：会议论文
| 作者 | Ren LY(任立勇)
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| 出版日期 | 2005 |
| 会议名称 | seventh international symposium on optical storage |
| 会议日期 | 2005-04-01－2005-04-06 |
| 会议地点 | 湛江 |
| 关键词 | Fresnel-kirchhoff diffraction theory Gaussian diffraction model |
| 页码 | 59661a-1 |
| 通讯作者 | qingling qu |
| 收录类别 | EI |
| 合作状况 | 其它 |
| 会议主办者 | spie |
| 会议录 | spie
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| 会议录出版者 | spie |
| 会议录出版地 | usa |
| 语种 | 英语 |
| ISSN号 | 0277-7869 |
| 源URL | [http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/8095]  |
| 专题 | 西安光学精密机械研究所_瞬态光学技术国家重点实验室 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | Ren LY. Gaussian diffraction model for Sb thin films in super-resolution near-field structure[C]. 见:seventh international symposium on optical storage. 湛江. 2005-04-01－2005-04-06. |
入库方式： OAI收割
来源：西安光学精密机械研究所
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