噪声对星载大气痕量气体差分吸收光谱仪信噪比具有重大影响，其是衡量光谱仪成像质量和痕量气体反演能力的标准。为量化并去除光谱仪系统噪声从而提高信噪比，分析了光谱仪噪声来源并给出了相应噪声模型，在此基础上建立了光谱仪信噪比模型。研究了入射光强度、积分时间和系统增益对系统信噪比的影响。通过光谱仪辐射定标试验数据对不同工作模式和不同参数与信噪比的关系进行了对比验证。并提出主要系统噪声的处理方法：利用线性拟合取截距法确定系统偏置噪声；在地面利用暗电流温度相关性获得温度修正因子实现载荷在轨暗电流校正；在探测器响应线性范围内利用两点校正法对PRNU噪声进行修正。结果表明：全幅成像模式下，可见1通道电子学偏置噪声响应DN值2 625，可见2通道电子学偏置噪声响应DN值2 763；暗电流噪声在CCD成像面温度高于0 ℃时占主要部分，温度下降至-20 ℃时其余噪声起主导作用，验证了CCD最佳制冷温度；光谱仪信噪比随着入射光响应和积分时间的增加而增大，系统增益不会影响信噪比；PRNU噪声通过校正得到明显改善，由3.32%下降到0.47%，提高了光谱仪成像质量。该噪声分析和处理方法对后期光谱数据的痕量气体反演提供帮助。