离散激光测量系统光轴外化方法和集成调试方法
文献类型：专利
| 作者 | 达争尚 ; 郑小霞; 李红光; 高立民; 孙策
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| 发表日期 | 2021-10-15 |
| 专利号 | CN202011301680.2 |
| 著作权人 | 中国科学院西安光学精密机械研究所 |
| 国家 | 中国 |
| 文献子类 | 发明专利 |
| 产权排序 | 1 |
| 英文摘要 | 为了使离散激光测量系统的调试集成过程大大简化，缩短集成调试时间，本发明提供了一种离散激光测量系统光轴外化方法和集成调试方法。本发明将离散激光测量系统的光轴外化标识，为系统中的众多光学元件提供了“可见”的、统一的光轴基准，将光学元件通过孔位安装即可实现基本就位，并且离散光学元件之间的光轴没有耦合影响，能够并行同时作业，从而使得离散激光测量系统集成调试过程大大简化，缩短了集成调试时间。 |
| 公开日期 | 2021-03-02 |
| 申请日期 | 2020-11-19 |
| 语种 | 中文 |
| 状态 | 授权 |
| 源URL | [http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/95484]  |
| 专题 | 西安光学精密机械研究所_先进光学仪器研究室 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 达争尚,郑小霞,李红光,等. 离散激光测量系统光轴外化方法和集成调试方法. CN202011301680.2. 2021-10-15. |
入库方式： OAI收割
来源：西安光学精密机械研究所
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