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高功率/能量激光测量系统及其杂光抑制方法

文献类型:专利

作者达争尚; 袁索超; 董晓娜; 李红光; 高立民; 段亚轩; 陈永权
发表日期2020-11-19
专利号CN202011305782.1
著作权人中国科学院西安光学精密机械研究所
国家中国
文献子类发明专利
产权排序1
英文摘要为了解决逃逸出来的光能会在测量仪器内部形成本低辐照进而会降低探测系统的探测信噪比的技术问题,本发明提供了高功率/能量激光测量系统及其杂光抑制方法。本发明在高功率/能量激光测量系统中光学探测通道的探测靶面的至少一个光学共轭位置处设置有杂光吸收体,可显著降低高功率/能量激光测量系统内部杂光对探测靶面的影响,大大提高高功率/能量激光测量系统的探测信噪比。
公开日期2021-03-23
申请日期2020-11-19
语种中文
状态申请中
源URL[http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/95490]  
专题西安光学精密机械研究所_先进光学仪器研究室
推荐引用方式
GB/T 7714
达争尚,袁索超,董晓娜,等. 高功率/能量激光测量系统及其杂光抑制方法. CN202011305782.1. 2020-11-19.

入库方式: OAI收割

来源:西安光学精密机械研究所

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