利用MAP评估提高表面等离子体结构光照明技术成像质量
文献类型：期刊论文
| 作者 | 余慕欣; 周文超 ; 吴一辉
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| 刊名 | 光子学报
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| 出版日期 | 2018 |
| 期号 | 04页码:21-27 |
| 关键词 | 显微 荧光显微 超分辨 表面等离子体 金属光学 图像重建技术 |
| 英文摘要 | 经典的恢复算法不能有效地恢复被观测物的全频域信息,空间频率的缺失导致超分辨图像伴有较为严重的旁瓣.本文提出利用最大后验概率(MAP)评估解决表面等离子体结构光照明技术中的光学旁瓣问题.结果表明MAP评估恢复算法可以有效恢复物质的高空间频率信息,并且通过合理选择优化参数达到抑制光学旁瓣的目的.在波长520nm,数值孔径1.3下,可获得半高全宽65nm的横向分辨力,约为传统荧光显微镜的3.6倍.该技术在生命科学观测中具有潜在应用价值. |
| 源URL | [http://ir.ciomp.ac.cn/handle/181722/61438]  |
| 专题 | 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 余慕欣,周文超,吴一辉. 利用MAP评估提高表面等离子体结构光照明技术成像质量[J]. 光子学报,2018(04):21-27. |
| APA | 余慕欣,周文超,&吴一辉.(2018).利用MAP评估提高表面等离子体结构光照明技术成像质量.光子学报(04),21-27. |
| MLA | 余慕欣,et al."利用MAP评估提高表面等离子体结构光照明技术成像质量".光子学报 .04(2018):21-27. |
入库方式： OAI收割
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