平面光栅衍射效率测试系统
文献类型：期刊论文
| 作者 | 于宏柱 |
| 刊名 | 长春工业大学学报
 |
| 出版日期 | 2018 |
| 期号 | 05页码:499-504 |
| 关键词 | 平面光栅 衍射效率 光线追迹 |
| 英文摘要 | 采用双CT结构以及光路追迹的优化光路系统,将光斑自动调整与三轴转台结合实现不同规格待测光栅的自动装调。实验结果表明,测量重复性误差小于2%。 |
| 源URL | [http://ir.ciomp.ac.cn/handle/181722/61452]  |
| 专题 | 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 于宏柱. 平面光栅衍射效率测试系统[J]. 长春工业大学学报,2018(05):499-504. |
| APA | 于宏柱.(2018).平面光栅衍射效率测试系统.长春工业大学学报(05),499-504. |
| MLA | 于宏柱."平面光栅衍射效率测试系统".长春工业大学学报 .05(2018):499-504. |
入库方式： OAI收割
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