CMOS和EMCCD在全局快门模式下的信噪比探讨
文献类型：期刊论文
| 作者 | 张晓阳; 刘金国 ; 孔德柱; 李广泽; 陈佳豫; 彭畅; 余达
|
| 刊名 | 电光与控制
 |
| 出版日期 | 2019 |
| 卷号 | 26期号:07页码:80-84 |
| 关键词 | 全局快门 对地观测 超光谱成像 寄生光灵敏度 CMOS成像 EMCCD |
| 英文摘要 | 全局快门在对地观测的超光谱成像、测绘及星敏应用中具有优势,但应用效果也依赖于高信噪比。针对CMOS成像特点,设计了可进行拉灌电流的低压基准源电路,基于低热光学变形的焦面电子学,提出上电初始态不定的多通道串行数据接收方法;针对全局快门所特有的寄生光灵敏度影响,采用分行统计中间行为基准的多点拟合校正方法;按照EMVA1288标准,将前照式CMOS成像系统与制冷背照式EMCCD进行了测试,校正前后单幅图像的标准差分别为3.37和0.42,最大信噪比为123.37,EMCCD的最大信噪比为359.43。结果表明,该校正方法可有效减弱全局快门的固定图形噪声,面阵CMOS在全局快门方式下的信噪比与EMCCD相比还有较大差距。 |
| 源URL | [http://ir.ciomp.ac.cn/handle/181722/63719]  |
| 专题 | 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 张晓阳,刘金国,孔德柱,等. CMOS和EMCCD在全局快门模式下的信噪比探讨[J]. 电光与控制,2019,26(07):80-84. |
| APA | 张晓阳.,刘金国.,孔德柱.,李广泽.,陈佳豫.,...&余达.(2019).CMOS和EMCCD在全局快门模式下的信噪比探讨.电光与控制,26(07),80-84. |
| MLA | 张晓阳,et al."CMOS和EMCCD在全局快门模式下的信噪比探讨".电光与控制 26.07(2019):80-84. |
入库方式： OAI收割
浏览0
下载0
收藏0
其他版本
除非特别说明，本系统中所有内容都受版权保护，并保留所有权利。