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多通道切换式阵列一致性测试系统设计

文献类型:期刊论文

作者张雨; 王钢; 裴君妍
刊名电子测量技术
出版日期2020-04-23
卷号43期号:08页码:169-174
关键词阵列信号 幅相一致性 FPGA+DSP 通道切换
英文摘要阵列信号采集系统一般具有采集速率高、数据量大的特点,且要求各个阵元间幅度和相位一致性好,设计了一种基于FPGA+DSP架构的阵列信号数据采集装置,配合上位机软件可分析通道间幅相一致性。该系统结合DSP浮点运算能力强以及FPGA管脚资源丰富的优势,搭载高速AD转换器,配合高灵敏度继电器组成的开关矩阵,可最大限度完成128路阵列信号的分时同步采集,既扩展了可测试的最大阵列数,又保证了幅相一致性指标。同时采用高速传输的USB芯片,完成与工控机之间的通信,实现大数据量高速传输功能。经实验证明,系统可实现对128路阵列信号的采集与传输,通道间幅度一致性优于±1 dB、相位一致性优于±3°。
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源URL[http://ir.ciomp.ac.cn/handle/181722/64041]  
专题中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
作者单位中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
推荐引用方式
GB/T 7714
张雨,王钢,裴君妍. 多通道切换式阵列一致性测试系统设计[J]. 电子测量技术,2020,43(08):169-174.
APA 张雨,王钢,&裴君妍.(2020).多通道切换式阵列一致性测试系统设计.电子测量技术,43(08),169-174.
MLA 张雨,et al."多通道切换式阵列一致性测试系统设计".电子测量技术 43.08(2020):169-174.

入库方式: OAI收割

来源:长春光学精密机械与物理研究所

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