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回流焊峰值温度对混装BGA焊点的影响研究

文献类型:期刊论文

作者张艳鹏; 王威; 王玉龙; 张雪莉
刊名电子元件与材料
出版日期2020-05-05
卷号39期号:05页码:86-89
关键词球栅阵列封装 峰值温度 混装焊点 坍塌高度 微观组织 空洞
英文摘要针对当前大量使用有铅焊料焊接无铅BGA的实际现状,通过调控有铅制程回流曲线的峰值温度,研究其对混装BGA焊点坍塌高度、空洞率及微观组织的影响。结果表明,峰值温度从210℃提升至225℃,无铅BGA焊球能够全部充分坍塌且高度保持一致;峰值温度为210℃时,混合焊点内的空洞率最低,随着峰值温度的升高,空洞尺寸和空洞率均有所增加;峰值温度为215℃时的微观组织最细小且尺寸分布最均匀,继续提升峰值温度,微观组织尺寸会随之增大。因此使用有铅焊料焊接无铅BGA的最佳峰值温度为215℃,与有铅制程保持一致。
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源URL[http://ir.ciomp.ac.cn/handle/181722/64076]  
专题中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
作者单位中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
推荐引用方式
GB/T 7714
张艳鹏,王威,王玉龙,等. 回流焊峰值温度对混装BGA焊点的影响研究[J]. 电子元件与材料,2020,39(05):86-89.
APA 张艳鹏,王威,王玉龙,&张雪莉.(2020).回流焊峰值温度对混装BGA焊点的影响研究.电子元件与材料,39(05),86-89.
MLA 张艳鹏,et al."回流焊峰值温度对混装BGA焊点的影响研究".电子元件与材料 39.05(2020):86-89.

入库方式: OAI收割

来源:长春光学精密机械与物理研究所

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