一种模拟电路单粒子瞬态效应的测试表征方法
文献类型：专利
| 作者 | 于新; 陆妩 ; 王信; 李小龙; 刘墨寒; 孙静; 李豫东; 郭旗
|
| 发表日期 | 2021-07-23 |
| 著作权人 | 中国科学院新疆理化技术研究所 |
| 文献子类 | 发明专利 |
| 英文摘要 | 本发明公开了一种模拟电路单粒子瞬态效应的测试表征方法，采用SET幅值‑宽度、幅值概率密度及分布、含有触发阈值参数的SET截面三种方法，建立了完整的模拟电路SET表征方法，采用该方法不仅能够描述模拟电路SET的全部特性，而且解决了模拟电路SET阈值不统一的特殊问题。具有SET特性完整、通用性强、可统计量化的特点。 |
| 申请日期 | 2021-03-09 |
| 源URL | [http://ir.xjipc.cas.cn/handle/365002/7996]  |
| 专题 | 固体辐射物理研究室 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 于新,陆妩,王信,等. 一种模拟电路单粒子瞬态效应的测试表征方法. 2021-07-23. |
入库方式： OAI收割
来源：新疆理化技术研究所
浏览0
下载0
收藏0
其他版本
除非特别说明，本系统中所有内容都受版权保护，并保留所有权利。