用磁介质环电流模型对裂纹状缺陷磁粉和漏磁探伤能力的研究
文献类型：会议论文
| 作者 | 蔡桂喜 ; 董瑞琪 |
| 出版日期 | 2004-10-14 |
| 会议名称 | 中国金属学会第十二届分析测试学术年会 |
| 会议日期 | 2004-10-14 |
| 会议地点 | 北京 |
| 关键词 | 环电流模型 漏磁探伤 磁粉探伤 疲劳裂纹 |
| 中文摘要 | 采用磁介质环电流模型计算各种槽形缺陷产生的漏磁场,包括标准规定的漏磁探伤对比试件上的人工伤、磁粉探伤标准试块上的人工伤、用数学方法模拟的疲劳裂纹和被检工件表面粗糙度等产生的漏磁场.将上述各种缺陷产生的漏磁场加以比较可以看出,由于疲劳裂纹开裂的缝隙十分狭窄,它所产生的漏磁场远小于人工标准伤所产生的漏磁场,也小于表面粗糙度所产生的漏磁场.因此结论认为:用磁粉法和漏磁法探测疲劳裂纹时,需要特别谨慎.挽言之,磁粉和漏磁两种方法不适合探测开裂缝隙很窄的疲劳裂纹. |
| 会议主办者 | 中国金属学会 |
| 会议录 | 冶金分析(下册)
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| 会议录出版者 | 中国金属学会 |
| 会议录出版地 | 北京 |
| 语种 | 中文 |
| 源URL | [http://210.72.142.130/handle/321006/70249]  |
| 专题 | 金属研究所_中国科学院金属研究所 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 蔡桂喜,董瑞琪. 用磁介质环电流模型对裂纹状缺陷磁粉和漏磁探伤能力的研究[C]. 见:中国金属学会第十二届分析测试学术年会. 北京. 2004-10-14. |
入库方式： OAI收割
来源：金属研究所
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