C60薄膜在快重离子辐照下的结构稳定性研究
文献类型:期刊论文
作者 | 金运范; 姚存峰![]() ![]() ![]() ![]() ![]() ![]() ![]() |
刊名 | 核技术
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出版日期 | 2007 |
卷号 | 30.0期号:004页码:323-327 |
关键词 | 结构稳定性 C60薄膜 快重离子 高密度电子激发效应 |
ISSN号 | 0253-3219 |
其他题名 | Structural stability of C60 films under the irradiation by swift heavy ions |
英文摘要 | 用傅立叶变换红外光谱、X射线衍射谱、X射线光电子谱和拉曼散射技术分析了能量为GeV量级的S、Fe、Xe、和U离子,以及120keV的H离子在室温下辐照多层堆积C60薄膜的结构稳定性,即快重离子在C60薄膜中由高密度电子激发引起的效应,主要包括C60分子的聚合、分子结构的损伤、新的高温-高压相的形成和晶态向非晶态的转变. |
语种 | 中文 |
CSCD记录号 | CSCD:2730162 |
源URL | [http://119.78.100.186/handle/113462/139196] ![]() |
专题 | 中国科学院近代物理研究所 |
作者单位 | 中国科学院近代物理研究所 |
推荐引用方式 GB/T 7714 | 金运范,姚存峰,宋银,等. C60薄膜在快重离子辐照下的结构稳定性研究[J]. 核技术,2007,30.0(004):323-327. |
APA | 金运范.,姚存峰.,宋银.,刘杰.,王志光.,...&段敬来.(2007).C60薄膜在快重离子辐照下的结构稳定性研究.核技术,30.0(004),323-327. |
MLA | 金运范,et al."C60薄膜在快重离子辐照下的结构稳定性研究".核技术 30.0.004(2007):323-327. |
入库方式: OAI收割
来源:近代物理研究所
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