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C60薄膜在快重离子辐照下的结构稳定性研究

文献类型:期刊论文

作者金运范; 姚存峰; 宋银; 刘杰; 王志光; 孙友梅; 张崇宏; 段敬来
刊名核技术
出版日期2007
卷号30.0期号:004页码:323-327
关键词结构稳定性 C60薄膜 快重离子 高密度电子激发效应
ISSN号0253-3219
其他题名Structural stability of C60 films under the irradiation by swift heavy ions
英文摘要用傅立叶变换红外光谱、X射线衍射谱、X射线光电子谱和拉曼散射技术分析了能量为GeV量级的S、Fe、Xe、和U离子,以及120keV的H离子在室温下辐照多层堆积C60薄膜的结构稳定性,即快重离子在C60薄膜中由高密度电子激发引起的效应,主要包括C60分子的聚合、分子结构的损伤、新的高温-高压相的形成和晶态向非晶态的转变.
语种中文
CSCD记录号CSCD:2730162
源URL[http://119.78.100.186/handle/113462/139196]  
专题中国科学院近代物理研究所
作者单位中国科学院近代物理研究所
推荐引用方式
GB/T 7714
金运范,姚存峰,宋银,等. C60薄膜在快重离子辐照下的结构稳定性研究[J]. 核技术,2007,30.0(004):323-327.
APA 金运范.,姚存峰.,宋银.,刘杰.,王志光.,...&段敬来.(2007).C60薄膜在快重离子辐照下的结构稳定性研究.核技术,30.0(004),323-327.
MLA 金运范,et al."C60薄膜在快重离子辐照下的结构稳定性研究".核技术 30.0.004(2007):323-327.

入库方式: OAI收割

来源:近代物理研究所

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