Development of a Pass-Through Diagnostic for Next-Generation XFELs Using Diamond Sensors
文献类型：会议论文
| 作者 | I. Silva Torrecilla; B.T. Jacobson; J.P. MacArthur; D. Zhu |
| 出版日期 | 2021 |
| 会议日期 | 2021 |
| 会议地点 | Korea |
| 会议录 | Proceedings of the 10th International Beam Instrumentation Conference
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| 语种 | 英语 |
| 源URL | [http://ir.ihep.ac.cn/handle/311005/291363]  |
| 专题 | 高能物理研究所_学术会议_国际参会_JaCoW高能所参会会议_IBIC |
| 作者单位 | SLAC, Menlo Park, California, USA |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | I. Silva Torrecilla,B.T. Jacobson,J.P. MacArthur,et al. Development of a Pass-Through Diagnostic for Next-Generation XFELs Using Diamond Sensors[C]. 见:. Korea. 2021. |
入库方式： OAI收割
来源：高能物理研究所
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