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The Applications of Machine Learning in Slit Scan Emittance Measurements

文献类型:会议论文

作者S. Ma; A. Arnold; A.A. Ryzhov; J. Schaber; J. Teichert; R. Xiang
出版日期2021
会议日期2021
会议地点Korea
会议录Proceedings of the 10th International Beam Instrumentation Conference
语种英语
源URL[http://ir.ihep.ac.cn/handle/311005/291398]  
专题高能物理研究所_学术会议_国际参会_JaCoW高能所参会会议_IBIC
作者单位HZDR, Dresden, Germany
推荐引用方式
GB/T 7714
S. Ma,A. Arnold,A.A. Ryzhov,et al. The Applications of Machine Learning in Slit Scan Emittance Measurements[C]. 见:. Korea. 2021.

入库方式: OAI收割

来源:高能物理研究所

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