The Applications of Machine Learning in Slit Scan Emittance Measurements
文献类型:会议论文
作者 | S. Ma; A. Arnold; A.A. Ryzhov; J. Schaber; J. Teichert; R. Xiang |
出版日期 | 2021 |
会议日期 | 2021 |
会议地点 | Korea |
会议录 | Proceedings of the 10th International Beam Instrumentation Conference |
语种 | 英语 |
源URL | [http://ir.ihep.ac.cn/handle/311005/291398] |
专题 | 高能物理研究所_学术会议_国际参会_JaCoW高能所参会会议_IBIC |
作者单位 | HZDR, Dresden, Germany |
推荐引用方式 GB/T 7714 | S. Ma,A. Arnold,A.A. Ryzhov,et al. The Applications of Machine Learning in Slit Scan Emittance Measurements[C]. 见:. Korea. 2021. |
入库方式: OAI收割
来源:高能物理研究所
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