Goubau-Line Set Up for Bench Testing Impedance of IVUE32 Components
文献类型：会议论文
| 作者 | P.I. Volz; S. Grimmer; M. Huck; A. Meseck |
| 出版日期 | 2021 |
| 会议日期 | 2021 |
| 会议地点 | Korea |
| 会议录 | Proceedings of the 10th International Beam Instrumentation Conference
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| 语种 | 英语 |
| 源URL | [http://ir.ihep.ac.cn/handle/311005/291430]  |
| 专题 | 高能物理研究所_学术会议_国际参会_JaCoW高能所参会会议_IBIC |
| 作者单位 | HZB, Berlin, Germany |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | P.I. Volz,S. Grimmer,M. Huck,et al. Goubau-Line Set Up for Bench Testing Impedance of IVUE32 Components[C]. 见:. Korea. 2021. |
入库方式： OAI收割
来源：高能物理研究所
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