Ti-Al系多层扩散偶界面金属间化合物的生长
文献类型：会议论文
| 作者 | 徐磊 ; 崔玉友 ; 杨锐 |
| 出版日期 | 2005-10 |
| 会议名称 | 第十二届全国钛及钛合金学术交流会 |
| 会议日期 | 2005-10 |
| 会议地点 | 西安 |
| 关键词 | 多层扩散偶 生长动力学 TiAl3 扫描电镜 能谱分析 电子探针 X射线衍射 |
| 中文摘要 | 本文采用Ti-Al多层扩散偶分析了520℃～650℃温度范围内的Ti/Al固态反应扩散.对Ti/Al结合界面进行了扫描电镜、能谱分析、电子探针和X射线衍射分析.结果表明:在Al的熔点以下时,TiAl3是唯一的Ti/Al界面反应产物,得到了Ti/Al固态反应扩散的动力学规律,分析了Ti/Al界面反应的热力学,解释了TiAl3相为唯一界面反应产物的原因. |
| 会议主办者 | 中国有色金属学会 |
| 会议录 | 稀有金属材料与工程
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| 语种 | 中文 |
| 源URL | [http://210.72.142.130/handle/321006/70368]  |
| 专题 | 金属研究所_中国科学院金属研究所 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 徐磊,崔玉友,杨锐. Ti-Al系多层扩散偶界面金属间化合物的生长[C]. 见:第十二届全国钛及钛合金学术交流会. 西安. 2005-10. |
入库方式： OAI收割
来源：金属研究所
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