电镜样品制备方法对非晶合金结构的影响
文献类型：会议论文
| 作者 | 孙兵兵 ; 王艳波 ; 文军 ; 杨海 ; 隋曼龄 |
| 出版日期 | 2006-08-26 |
| 会议名称 | 2006年全国电子显微学会议 |
| 会议日期 | 2006-08-26 |
| 会议地点 | 沈阳 |
| 关键词 | 非晶合金 合金结构 电镜样品 制备方法 非晶态结构 透射电镜 |
| 中文摘要 | 非晶合金,特别是大块非晶合金,以其优异的性能而引起人们广泛的关注.通常情况下,人们普遍采用X射线衍射技术(XRD)来反映非晶合金的非晶态结构特征.然而当晶粒尺寸非常小时(如小于10nm),X射线衍射技术无法将非晶态和晶态严格地区分开.这样,透射电镜技术(TEM)或高分辨透射电镜技术(HRTEM)等直观的结构表征方法,就成为表征非晶合金真实结构不可或缺的技术手段.然而,在电镜样品制备的过程中,处于亚稳状态的非晶结构极易产生变化、引入结构假象,从而导致对结果的错误解读.有关电镜样品制备方法在非晶合金中引起的假象,还未引起人们足够的重视.为此,本文以三种非晶合金为例,结合HRTEM和高角环形扫描暗场像(HAADF-STEM)等表征手段,揭示了电镜样品制备方法对非晶合金结构的影响。 |
| 会议主办者 | 中国物理学会 |
| 会议录 | 电子显微学报
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| 语种 | 中文 |
| 源URL | [http://210.72.142.130/handle/321006/70515]  |
| 专题 | 金属研究所_中国科学院金属研究所 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 孙兵兵,王艳波,文军,等. 电镜样品制备方法对非晶合金结构的影响[C]. 见:2006年全国电子显微学会议. 沈阳. 2006-08-26. |
入库方式： OAI收割
来源：金属研究所
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