纳米科技普遍性原理的探讨
文献类型：会议论文
| 作者 | 闻立时 ; 黄荣芳 |
| 出版日期 | 2007-11-15 |
| 会议名称 | 第六届中国功能材料及其应用学术会议 |
| 会议日期 | 2007-11-15 |
| 会议地点 | 武汉 |
| 关键词 | 纳米科技 普遍性原理 金属薄膜 尺寸效应 电导率 电磁场理论 低维组元 |
| 中文摘要 | 在纳米科技研究中,我们有机会接触多个纳米科技领域的理论,它们都是针对纳米科技的某一领域的某个特殊问题提出,并且适用于该局部领域,例如:金属薄膜电导率尺寸效应理论；半导体表面纳米光催化理论；半导体超晶格物理；纳米结构增强原理；X射线反射多层膜原理；介观物理；纳米多层膜磁阻效应及其信息存储技术原理；纳米结构电磁工程原理；电磁波局域化理论；光子晶体和微腔技术理论。这类理论通常称之为纳米科技的特殊性原理。 另一类理论则不同,它们针对纳米科技整个领域的一切问题提出,并且适用于纳米科技的全部领域,人们称之为普遍性原理。显然,发展和建立纳米科技的普遍性原理体系,有利于进一步提高纳米科技领域的整体水平。但是,这样的理论体系建立的难度,也会比特殊性理论要大得多。本文是作者开展普遍性原理研究的初步结果。 |
| 会议主办者 | 中国仪器仪表学会;中国物理学会;中国光学学会 |
| 会议录 | 第六届中国功能材料及其应用学术会议论文集
 |
| 语种 | 中文 |
| 源URL | [http://210.72.142.130/handle/321006/70570]  |
| 专题 | 金属研究所_中国科学院金属研究所 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 闻立时,黄荣芳. 纳米科技普遍性原理的探讨[C]. 见:第六届中国功能材料及其应用学术会议. 武汉. 2007-11-15. |
入库方式： OAI收割
来源：金属研究所
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