LHAASO WCDA前端芯片批量测试系统的设计
文献类型：期刊论文
| 作者 | 王德娴; 赵雷; 龚震; 董若石; 曹喆; 刘树彬; 安琪 |
| 刊名 | 原子核物理评论
 |
| 出版日期 | 2020 |
| 卷号 | 37期号:02页码:191-198 |
| 语种 | 中文 |
| 源URL | [http://ir.ihep.ac.cn/handle/311005/292173]  |
| 专题 | 高海拔宇宙线观测站 |
| 作者单位 | 中国科学院高能物理研究所 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 王德娴,赵雷,龚震,等. LHAASO WCDA前端芯片批量测试系统的设计[J]. 原子核物理评论,2020,37(02):191-198. |
| APA | 王德娴.,赵雷.,龚震.,董若石.,曹喆.,...&安琪.(2020).LHAASO WCDA前端芯片批量测试系统的设计.原子核物理评论,37(02),191-198. |
| MLA | 王德娴,et al."LHAASO WCDA前端芯片批量测试系统的设计".原子核物理评论 37.02(2020):191-198. |
入库方式： OAI收割
来源：高能物理研究所
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