磁粉和漏磁探伤对裂纹状缺陷检出能力的研究
文献类型：会议论文
| 作者 | 蔡桂喜 ; 董瑞琪 |
| 出版日期 | 2004-08-04 |
| 会议名称 | 2004年全国电磁(涡流)检测技术研讨会 |
| 会议日期 | 2004-08-04 |
| 会议地点 | 鞍山 |
| 关键词 | 环电流模型 漏磁场 疲劳裂纹缺陷 漏磁探伤 磁粉探伤 |
| 中文摘要 | 本文用环电流模型计算了各种矩形槽形状人工及自然缺陷产生的漏磁场，包括标准规定的漏磁探伤对比试样的人工伤和磁粉探伤标准试块上的人工伤。 还计算了经过机加工的工件表面粗糙度所产生的漏磁场。对于自然伤重点分析了疲劳裂纹产生的漏磁场。由于疲劳裂纹一般开裂的缝隙很窄，因此产生的漏磁场远比人工标准伤和表面粗糙度产生的漏磁场微弱，因此用磁粉法和漏磁探测疲劳裂纹时，需要倍加小心。换言之，磁粉和漏磁两种方法不适合开裂缝隙很窄的疲劳裂纹的检测。 |
| 会议主办者 | 中国机械工程学会 |
| 会议录 | 2004年全国电磁(涡流)检测技术研讨会论文集
 |
| 语种 | 中文 |
| 源URL | [http://210.72.142.130/handle/321006/70780]  |
| 专题 | 金属研究所_中国科学院金属研究所 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 蔡桂喜,董瑞琪. 磁粉和漏磁探伤对裂纹状缺陷检出能力的研究[C]. 见:2004年全国电磁(涡流)检测技术研讨会. 鞍山. 2004-08-04. |
入库方式： OAI收割
来源：金属研究所
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