干涉成像光谱仪的EMC特性分析
文献类型：期刊论文
| 作者 | 李自田 ; 刘学斌
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| 刊名 | 光子学报
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| 出版日期 | 2007 |
| 卷号 | 36期号:11页码:2094-2097 |
| ISSN号 | 1004-4213 |
| 通讯作者 | 李自田 |
| 学科主题 | 光谱学 |
| 收录类别 | EI |
| 公开日期 | 2010-01-12 |
| 源URL | [http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/5894]  |
| 专题 | 西安光学精密机械研究所_光学影像学习与分析中心 |
| 通讯作者 | 李自田 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 李自田,刘学斌. 干涉成像光谱仪的EMC特性分析[J]. 光子学报,2007,36(11):2094-2097. |
| APA | 李自田,&刘学斌.(2007).干涉成像光谱仪的EMC特性分析.光子学报,36(11),2094-2097. |
| MLA | 李自田,et al."干涉成像光谱仪的EMC特性分析".光子学报 36.11(2007):2094-2097. |
入库方式： OAI收割
来源：西安光学精密机械研究所
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