在成像偏振仪中引入偏振态发生器,以校准仪器,并提出了一种用于成像偏振仪的二次校准方法。偏振态发生器产生的标准偏振态经偏振仪测量后可得到偏振仪响应矩阵,从而对偏振仪潜在的误差进行一次校准。利用优化算法进一步解算偏振态发生器内四分之一波片的快轴方位角误差和线性二色性系数,从而对标准偏振态和偏振仪响应矩阵进行二次校准。在实验室内对该方法进行了测试,并计算了偏振态发生器的误差和修正后的偏振仪响应矩阵,实现了对成像偏振仪的二次校准。实验结果表明,本方法可提升成像偏振仪的测量精度。