Accurate Calibration and Measurement of Optoelectronic Devices
文献类型：期刊论文
| 作者 | Zhang, Shangjian; Li, Wei; Chen, Wei; Zhang, Yali; Zhu, Ninghua |
| 刊名 | JOURNAL OF LIGHTWAVE TECHNOLOGY
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| 出版日期 | 2021 |
| 卷号 | 39期号:12页码:3687-3698 |
| 语种 | 英语 |
| 公开日期 | 2021 |
| 源URL | [http://ir.semi.ac.cn/handle/172111/31064]  |
| 专题 | 半导体研究所_光电子研究发展中心 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | Zhang, Shangjian; Li, Wei; Chen, Wei; Zhang, Yali; Zhu, Ninghua. Accurate Calibration and Measurement of Optoelectronic Devices[J]. JOURNAL OF LIGHTWAVE TECHNOLOGY,2021,39(12):3687-3698. |
| APA | Zhang, Shangjian; Li, Wei; Chen, Wei; Zhang, Yali; Zhu, Ninghua.(2021).Accurate Calibration and Measurement of Optoelectronic Devices.JOURNAL OF LIGHTWAVE TECHNOLOGY,39(12),3687-3698. |
| MLA | Zhang, Shangjian; Li, Wei; Chen, Wei; Zhang, Yali; Zhu, Ninghua."Accurate Calibration and Measurement of Optoelectronic Devices".JOURNAL OF LIGHTWAVE TECHNOLOGY 39.12(2021):3687-3698. |
入库方式： OAI收割
来源：半导体研究所
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