一种采用价带谱进行X射线光电子能谱校正的方法
文献类型：专利
| 作者 | 刘建 ; 郝俊英; 刘维民
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| 发表日期 | 2022-04-05 |
| 专利号 | ZL202010960652.5 |
| 著作权人 | 中国科学院兰州化学物理研究所 ; 青岛是资源化学与新材料研究中心 |
| 国家 | 中国 |
| 文献子类 | 发明专利 |
| 申请日期 | 2020-09-14 |
| 语种 | 中文 |
| 状态 | 已授权 |
| 源URL | [http://ir.licp.cn/handle/362003/29169]  |
| 专题 | 兰州化学物理研究所_固体润滑国家重点实验室 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 刘建,郝俊英,刘维民. 一种采用价带谱进行X射线光电子能谱校正的方法. ZL202010960652.5. 2022-04-05. |
入库方式： OAI收割
来源：兰州化学物理研究所
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