多角度偏振成像仪是一种超广角画幅式的偏振成像传感器,杂散光是影响其辐射偏振测量精度的重要因素 之一.为了避免杂散光影响高精度定量参数的反演,需要在实验室对其进行专门的分析、测量和校正.根据多角 度偏振成像仪的光学系统特点,将影响仪器的杂光分为局部杂光和全局杂光,重点分析了这两种杂光的成因和表 现特性,并以此为基础构建了仪器的杂散光模型,提出了通过分区域照明获取杂光系数矩阵并对待校图像进行分 块校正的方法.在未饱和及过饱和两种情况下,通过分矩形区域、分视场二维转动扫描成像的方式,建立了目标区 辐射量和其他非目标区杂光量的关系,最终获得１１×１１区域的杂散光系数矩阵.最后根据实测得到的杂散光系 数矩阵对图像进行了校正,结果表明,此校正方法可以消除至少９０％的杂散光.