Simulations of Nanoblade Cathode Emissions with Image Charge Trapping for Yield and Brightness Analyses
文献类型：会议论文
| 作者 | J.I. Mann; G.E. Lawler; J.B. Rosenzweig; B. Wang |
| 出版日期 | 2022 |
| 会议日期 | 2022 |
| 会议地点 | USA |
| 会议录 | Proceedings of the North American Particle Accelerator Conference
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| 源URL | [http://ir.ihep.ac.cn/handle/311005/297003]  |
| 专题 | 学术会议_国际参会_JaCoW高能所参会会议_NA-PAC |
| 作者单位 | UCLA, Los Angeles, California, USA |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | J.I. Mann,G.E. Lawler,J.B. Rosenzweig,et al. Simulations of Nanoblade Cathode Emissions with Image Charge Trapping for Yield and Brightness Analyses[C]. 见:. USA. 2022. |
入库方式： OAI收割
来源：高能物理研究所
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