Magnetron sputtering scanning method for modifying silicon carbide optical reflector surface and improving surface profile(授权发明)
文献类型:专利
作者 | 王晋峰![]() ![]() ![]() ![]() |
发表日期 | 2022-05-24 |
专利号 | US 11,339,468 B2 |
著作权人 | 中国科学院南京天文光学技术研究所 |
国家 | 美国 |
文献子类 | 发明专利 |
英文摘要 | A magnetron sputtering scanning method for manufacturing a silicon carbide optical reflector surface modification layer and improving surface profile includes (1) for a silicon carbide plane mirror to be modified, first utilizing diamond micro-powders to grind and roughly polish an aspherical silicon carbide reflector with a conventional polishing or CCOS numerical control machining method; (2) after the surface profile precision of the silicon carbide reflector satisfies a modification requirement, utilizing a strip-shaped magnetron sputtering source to deposit a compact silicon modification layer on the surface of the silicon carbide reflector; (3) then, utilizing a circular sputtering source to modify and improve the surface profile of the reflector; and (4) finally, finely polishing the modification layer, and achieving the requirements for machining the surface profile and roughness of the reflector. |
学科主题 | 天文技术与方法 |
申请日期 | 2018-03-30 |
语种 | 英语 |
状态 | 已授权 |
源URL | [http://ir.niaot.ac.cn/handle/114a32/2029] ![]() |
专题 | 专利 南京天文光学技术研究所_中科院南京天光所知识成果 |
作者单位 | 南京天文光学技术研究所 |
推荐引用方式 GB/T 7714 | 王晋峰,黄猛,田杰,等. Magnetron sputtering scanning method for modifying silicon carbide optical reflector surface and improving surface profile(授权发明). US 11,339,468 B2. 2022-05-24. |
入库方式: OAI收割
来源:南京天文光学技术研究所
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