恒星光干涉光程差检测及条纹跟踪方法和系统(授权发明)
文献类型:专利
作者 | 侯永辉![]() ![]() ![]() ![]() ![]() ![]() |
发表日期 | 2022-10-11 |
专利号 | ZL202010757686.4 |
著作权人 | 中国科学院国家天文台南京天文光学技术研究所 |
国家 | 中国 |
文献子类 | 实用新型 |
英文摘要 | 本发明涉及恒星光干涉光程差检测及条纹跟踪方法和系统,所述该光程差检测方法基于干涉光谱实现,利用色散棱镜获得干涉光束的干涉光谱,有效检测范围达到百微米量级,可快速捕获干涉条纹,同时实现光程差高精度检测。根据光程差检测结果进行条纹跟踪,通过延迟线系统补偿光程差,该延迟线系统由直线位移平台与纳米级压电位移平台组成,利用实时控制算法控制,同时以光程差检测结果作为反馈形成闭环,实现实时的一个波长量级的光程差补偿。本发明光程差检测精度可达一个波长量级、检测范围可达195μm,可快速捕获干涉条纹。本发明光程差补偿为闭环控制,在高效运行的同时,保证了光程差补偿的精度。 |
学科主题 | 天文技术与方法 |
申请日期 | 2020-07-31 |
语种 | 中文 |
源URL | [http://ir.niaot.ac.cn/handle/114a32/2033] ![]() |
专题 | 专利 南京天文光学技术研究所_中科院南京天光所知识成果 |
作者单位 | 南京天文光学技术研究所 |
推荐引用方式 GB/T 7714 | 侯永辉,魏炜,徐腾,等. 恒星光干涉光程差检测及条纹跟踪方法和系统(授权发明). ZL202010757686.4. 2022-10-11. |
入库方式: OAI收割
来源:南京天文光学技术研究所
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