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一种原位X-射线吸收谱测量系统及测量方法

文献类型:专利

作者张静; 刘聚哲; 章红宇; 殷子; 储胜启; 安鹏飞; 黄换; 郭林
发表日期2021
专利号CN113376188
著作权人中国科学院高能物理研究所 ; 北京航空航天大学
文献子类发明专利
英文摘要本发明公开了一种原位X‑射线吸收谱测量系统及测量方法;测量系统包括:电化学工作站、PC机以及QXAFS电子学设备;PC机分别与电化学工作站和QXAFS电子学设备连接,用于控制电化学测试和X‑射线吸收谱测试同步进行;电化学工作站连接三电极电化学系统,其包括参比电极、对电极和工作电极,所述电极均置于含有电解质溶液的电化学反应池内;工作电极上涂覆有测试样品;QXAFS电子学设备连接有X‑射线发射装置以及X‑射线探测器;X‑射线发射装置朝向工作电极上的测试样品发射X‑射线;X‑射线探测器用于接收测试样品被激发的X‑射线荧光信号。通过该系统可以实现样品在同一条件下的多模式测试,将样品的结构与性能一一对应。
公开日期2021
源URL[http://ir.ihep.ac.cn/handle/311005/298125]  
专题高能物理研究所_多学科研究中心
高能物理研究所_实验物理中心
作者单位中国科学院高能物理研究所
推荐引用方式
GB/T 7714
张静,刘聚哲,章红宇,等. 一种原位X-射线吸收谱测量系统及测量方法. CN113376188. 2021-01-01.

入库方式: OAI收割

来源:高能物理研究所

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