一种原位X-射线吸收谱测量系统及测量方法
文献类型:专利
作者 | 张静![]() ![]() ![]() ![]() ![]() |
发表日期 | 2021 |
专利号 | CN113376188 |
著作权人 | 中国科学院高能物理研究所 ; 北京航空航天大学 |
文献子类 | 发明专利 |
英文摘要 | 本发明公开了一种原位X‑射线吸收谱测量系统及测量方法;测量系统包括:电化学工作站、PC机以及QXAFS电子学设备;PC机分别与电化学工作站和QXAFS电子学设备连接,用于控制电化学测试和X‑射线吸收谱测试同步进行;电化学工作站连接三电极电化学系统,其包括参比电极、对电极和工作电极,所述电极均置于含有电解质溶液的电化学反应池内;工作电极上涂覆有测试样品;QXAFS电子学设备连接有X‑射线发射装置以及X‑射线探测器;X‑射线发射装置朝向工作电极上的测试样品发射X‑射线;X‑射线探测器用于接收测试样品被激发的X‑射线荧光信号。通过该系统可以实现样品在同一条件下的多模式测试,将样品的结构与性能一一对应。 |
公开日期 | 2021 |
源URL | [http://ir.ihep.ac.cn/handle/311005/298125] ![]() |
专题 | 高能物理研究所_多学科研究中心 高能物理研究所_实验物理中心 |
作者单位 | 中国科学院高能物理研究所 |
推荐引用方式 GB/T 7714 | 张静,刘聚哲,章红宇,等. 一种原位X-射线吸收谱测量系统及测量方法. CN113376188. 2021-01-01. |
入库方式: OAI收割
来源:高能物理研究所
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