一种探测器气冷测试装置
文献类型:专利
作者 | 付金煜![]() ![]() ![]() |
发表日期 | 2021 |
专利号 | CN113311473 |
著作权人 | 中国科学院高能物理研究所 |
文献子类 | 发明专利 |
英文摘要 | 本发明公开了一种探测器气冷测试装置,其特征在于,包括气体降温装置(1)、流量控制器(2)、可调导流装置(3)、冷却腔(4)、可调扰流装置(6)、若干测温探头(8)和位于冷却腔(4)内部用于支撑探测器的上游隔热支架(51)、下游隔热支架(52);其中,气体降温装置(1)一端用于与气源连接,另一端依次经流量控制器(2)、可调导流装置(3)与冷却腔(4)的入口端连接,上游隔热支架(51)与下游隔热支架(52)之间的冷却腔内壁上设置可调扰流装置(6),各测温探头用于对探测器的各设定位置进行温度测量。通过本发明可以对不同环境下探测器冷却效果进行测量,以研究得出较优的探测器气冷方案。 |
公开日期 | 2021 |
源URL | [http://ir.ihep.ac.cn/handle/311005/298134] ![]() |
专题 | 高能物理研究所_实验物理中心 高能物理研究所_加速器中心 |
作者单位 | 中国科学院高能物理研究所 |
推荐引用方式 GB/T 7714 | 付金煜,祝翱.吉马雷斯.达.科斯塔,梁志均,等. 一种探测器气冷测试装置. CN113311473. 2021-01-01. |
入库方式: OAI收割
来源:高能物理研究所
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