一种透明材料残余应力的无损检测系统及方法
文献类型：专利
| 作者 | 杨晓宇 ; 衡月昆; 李兆涵; 王贻芳
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| 发表日期 | 2021 |
| 专利号 | CN113063534 |
| 著作权人 | 中国科学院高能物理研究所 |
| 文献子类 | 发明专利 |
| 英文摘要 | 本发明涉及一种透明材料残余应力的无损检测系统，属于材料检测技术领域，解决了现有检测系统测量精度低、系统复杂且成本高的问题。该系统包括光源发生装置，产生可见光束；系数标定机构，对待检测透明材料标准件应力光学系数进行标定；检测装置，测试获得起偏器的偏振方向和检偏器的偏振方向分别处于多组不同的角度时对应的预设波段范围的多个光谱；处理器，根据多个光谱确定待检测透明材料测试件残余应力的方向，以及，基于光谱幅值最大的光谱，通过数值拟合法拟合获得对应的光程差，基于该光程差和应力光学系数计算得到待检测透明材料测试件残余应力的大小，该系统能够工作于自然光环境中，基于无损检测能够精确、定量确定透明材料的应力大小。 |
| 公开日期 | 2021 |
| 源URL | [http://ir.ihep.ac.cn/handle/311005/298156]  |
| 专题 | 高能物理研究所_实验物理中心 |
| 作者单位 | 中国科学院高能物理研究所 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 杨晓宇,衡月昆,李兆涵,等. 一种透明材料残余应力的无损检测系统及方法. CN113063534. 2021-01-01. |
入库方式： OAI收割
来源：高能物理研究所
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