一种电磁粒子探测器读出电子学板批量测试方法
文献类型：专利
| 作者 | 张庚; 常劲帆
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| 发表日期 | 2021 |
| 专利号 | CN113050147 |
| 著作权人 | 中国科学院高能物理研究所 |
| 文献子类 | 发明专利 |
| 英文摘要 | 本发明公开了一种电磁粒子探测器读出电子学板批量测试方法，其步骤包括：1)衰减器控制模块对衰减器进行参数配置，配置输入电子学的每一帧信号时长及对应帧信号的衰减倍数；测试系统将电子学的K组配置参数发送到每一待测的电子学；不同电子学具体不同的地址、阳极台阶值与打拿极台阶值；不同组的配置参数中刻度电压不同；2)信号产生器产生的信号输入衰减器，衰减器根据参数配置产生M帧阶跃变化的信号并依次输入到每一待测试的电子学，测试每个电子学K个不同刻度电压下的测试数据；3)测试系统采集每个所述电子学K个不同刻度电压下的测试数据并对其进行处理生成图像，以测试各所述电子学的性能。本发明减少测试时间并提高了测试精度。 |
| 公开日期 | 2021 |
| 源URL | [http://ir.ihep.ac.cn/handle/311005/298158]  |
| 专题 | 高能物理研究所_实验物理中心 |
| 作者单位 | 中国科学院高能物理研究所 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 张庚,常劲帆. 一种电磁粒子探测器读出电子学板批量测试方法. CN113050147. 2021-01-01. |
入库方式： OAI收割
来源：高能物理研究所
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