一种基于计算机分层扫描成像CL系统的校正方法
文献类型:专利
作者 | 魏增辉![]() ![]() ![]() ![]() ![]() ![]() ![]() |
发表日期 | 2017 |
专利号 | CN106706675 |
著作权人 | 中国科学院高能物理研究所 |
文献子类 | 发明专利 |
英文摘要 | 一种基于计算机分层扫描成像CL系统的校正方法,通过使具有确定参考点或参考图形的模体在平板探测器上成像,同时调整所述系统中X射线源焦点的空间位置、探测器的位置、载物台的位置,在调整过程中观察所述参考点或参考图形的投影变化,根据投影变化指导调整方向和幅度,将所述X射线源校正到转臂旋转所形成的球心位置、平板探测器的位姿校正到与所述转变旋转形成球面相切且无扭摆角。通过所述校正方法,仅需利用简单的模体,就可在较短时间内,直接对CL系统各部件的几何位姿和相对关系进行校正。 |
公开日期 | 2017 |
源URL | [http://ir.ihep.ac.cn/handle/311005/298575] ![]() |
专题 | 高能物理研究所_核技术应用研究中心 高能物理研究所_实验物理中心 |
作者单位 | 中国科学院高能物理研究所 |
推荐引用方式 GB/T 7714 | 魏增辉,刘宝东,邵雨濛,等. 一种基于计算机分层扫描成像CL系统的校正方法. CN106706675. 2017-01-01. |
入库方式: OAI收割
来源:高能物理研究所
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