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超导材料低温微波表面电阻测试装置及方法

文献类型:专利

作者董超; 沙鹏; 曾成; 张详振; 徐妙富
发表日期2019
专利号CN110068732
著作权人中国科学院高能物理研究所 ; 成都特锐迈思科技有限公司
文献子类发明专利
英文摘要本发明公开了一种超导材料低温微波表面电阻多模测试装置以及方法,该装置包括圆柱形金属腔体以及填充于金属腔体中的介质材料,金属腔体底面设有样品孔,样品孔的中心轴位于金属腔体底面的中心。利用上述测试装置测试微波表面电阻的多模测试方法,包括以下步骤:S1、将高纯铌置于样品孔中,分别测量出TE 011 工作模式和TE 021 工作模式下的无载品质因数;S2、将待测样品置于样品孔中,分别测量出TE 011 工作模式和TE 021 工作模式下的无载品质因数;S3、根据相关公式即可计算待测样品在TE 011 工作模式和TE 021 工作模式下的微波表面电阻值。该装置及方法利用填充介质圆柱谐振腔的多个模式,可对低温下小尺寸样品在较低频率下的微波表面电阻进行直接无损测量,测量不确定度低。
公开日期2019
源URL[http://ir.ihep.ac.cn/handle/311005/298357]  
专题高能物理研究所_加速器中心
作者单位中国科学院高能物理研究所
推荐引用方式
GB/T 7714
董超,沙鹏,曾成,等. 超导材料低温微波表面电阻测试装置及方法. CN110068732. 2019-01-01.

入库方式: OAI收割

来源:高能物理研究所

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