一种同步辐射的衍射增强成像方法
文献类型:专利
作者 | 刁千顺![]() ![]() ![]() ![]() ![]() ![]() ![]() ![]() ![]() ![]() |
发表日期 | 2018 |
专利号 | CN108645879 |
著作权人 | 中国科学院高能物理研究所 |
文献子类 | 发明专利 |
英文摘要 | 本发明公开了一种同步辐射的衍射增强成像方法。本方法为:选取两块斜切晶体,一块作为单色器、一块作为分析器;将X射线掠入射到单色器表面上产生的衍射光束入射到待测样品;然后将该单色器绕晶格面法线方向旋转,根据测量光斑尺寸推测斜切因子b值,当其与理论值相当时固定该单色器的旋转角度φ;将X射线透过样品后的光线入射到分析器表面上;然后将分析器绕其晶格面法线旋转角度φ;以衍射面的法线为轴旋转分析器,利用光强探测器检测出射光强度随着角度的变化曲线,记录下该分析器在该变化曲线的峰位、半峰位和峰底对应的角度位置;将该分析器分别调整到步骤4)记录的角度位置上,利用成像探测器分别接收该分析器出射的信号。 |
公开日期 | 2018 |
源URL | [http://ir.ihep.ac.cn/handle/311005/298454] ![]() |
专题 | 高能物理研究所_多学科研究中心 高能物理研究所_加速器中心 |
作者单位 | 中国科学院高能物理研究所 |
推荐引用方式 GB/T 7714 | 刁千顺,洪振,张小威,等. 一种同步辐射的衍射增强成像方法. CN108645879. 2018-01-01. |
入库方式: OAI收割
来源:高能物理研究所
浏览0
下载0
收藏0
其他版本
除非特别说明,本系统中所有内容都受版权保护,并保留所有权利。