一种传感器设备低温测试台
文献类型：专利
| 作者 | 米正辉 ; 沙鹏; 贺斐思; 翟纪元
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| 发表日期 | 2018 |
| 专利号 | CN107941261 |
| 著作权人 | 中国科学院高能物理研究所 |
| 文献子类 | 发明专利 |
| 英文摘要 | 本发明公开了一种传感器设备低温测试台，其特征在于，包括恒温器、综合工装台和预加载装置；所述恒温器内设有一液氦池，所述综合工装台位于所述液氦池内；所述预加载装置包括真空管、传动单元和力加载控制单元，传动单元位于真空管内，力加载控制单元与传动单元连接，力加载控制单元与真空管密封连接，所述真空管通过法兰与所述恒温器的顶部开口密封连接；所述综合工装台的最外层为真空盒，所述真空盒与所述预加载装置的真空管密封连接，所述真空盒内部设有用于安装待测传感器设备的测试工装，所述真空管内的传动单元与所述测试工装连接。本发明测试成本低、效率高，便于操作，易于实现连续变化温度下低温传感器性能的测量。 |
| 公开日期 | 2018 |
| 源URL | [http://ir.ihep.ac.cn/handle/311005/298501]  |
| 专题 | 高能物理研究所_加速器中心 |
| 作者单位 | 中国科学院高能物理研究所 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 米正辉,沙鹏,贺斐思,等. 一种传感器设备低温测试台. CN107941261. 2018-01-01. |
入库方式： OAI收割
来源：高能物理研究所
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