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光学系统及该光学系统的荧光测量方法和预定位方法

文献类型:专利

作者李晓东; 宫宇; 李延春; 杨栋亮
发表日期2017
专利号CN106525884
著作权人中国科学院高能物理研究所
文献子类发明专利
英文摘要本公开提供一种光学系统及该光学系统的荧光测量和预定位方法,光学系统包括定位平台、激光源、照明光源、控制单元、二向色镜、半反镜、分束镜、摄像单元以及显示单元。方法包括:通过激光定位第一位置,使叉丝的交叉点在显示单元中的显示位置为第一位置,将金刚石对顶砧置于定位平台,定位平台移动使金刚石对顶砧样品腔内的红宝石在显示单元中显示位置为第一位置,完成荧光测量,记录定位平台的坐标,最后根据金刚石对顶砧中金刚石折射率对记录的坐标进行校正。本公开能够实现金刚石对顶砧样品腔的压力测定以及预定位,不仅避免依赖Raman光谱系统对样品腔的压力进行标定,而且缩短了X射线衍射系统对金刚石对顶砧样品腔实验的定位时间。
公开日期2017
源URL[http://ir.ihep.ac.cn/handle/311005/298582]  
专题高能物理研究所_多学科研究中心
高能物理研究所_理论物理室
作者单位中国科学院高能物理研究所
推荐引用方式
GB/T 7714
李晓东,宫宇,李延春,等. 光学系统及该光学系统的荧光测量方法和预定位方法. CN106525884. 2017-01-01.

入库方式: OAI收割

来源:高能物理研究所

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