基于透明闪烁体薄膜的显微成像方法和系统
文献类型：专利
| 作者 | 谷战军 ; 吴晓辰; 董兴华
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| 发表日期 | 2021 |
| 专利号 | CN113866192 |
| 著作权人 | 中国科学院高能物理研究所 |
| 文献子类 | 发明专利 |
| 英文摘要 | 本发明涉及一种基于透明闪烁体薄膜的显微成像方法和系统，属于高分辨X射线成像领域，用于解决显微镜无法获取完全的微观结构的问题，所述方法包括：在待观测样品的观测面上设置透明闪烁体薄膜；利用显微镜在所述待观测样品的观测面上确定观测区域；利用X射线照射所述待观测样品的非观测面，所述观测面和所述非观测面互为正反面；利用所述显微镜观测所述X射线通过所述观测区域和所述透明闪烁体薄膜得到图像。本发明提供的技术方案能够提高显微成像的精确度。 |
| 公开日期 | 2021 |
| 源URL | [http://ir.ihep.ac.cn/handle/311005/298084]  |
| 专题 | 高能物理研究所_多学科研究中心 |
| 作者单位 | 中国科学院高能物理研究所 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 谷战军,吴晓辰,董兴华. 基于透明闪烁体薄膜的显微成像方法和系统. CN113866192. 2021-01-01. |
入库方式： OAI收割
来源：高能物理研究所
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