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原位X-射线吸收谱测试装置、方法

文献类型:专利

作者余灿; 张静; 黄换; 储胜启; 张贵凯; 殷子
发表日期2021
专利号CN113848221
著作权人中国科学院高能物理研究所
文献子类发明专利
英文摘要本发明涉及一种原位X‑射线吸收谱测试装置、方法,所述装置包括:电化学工作站、电化学反应池、差分电化学数据采集系统;所述电化学工作站与所述电化学反应池和差分电化学数据采集系统连接;所述电化学反应池与所述差分电化学数据采集系统连接。本申请通过交变电压的方式进行原位X‑射线吸收谱测试,能够同时检测催化剂在不同电压下的化学价态变化,反映催化剂的氧化还原反应历程,为探究催化剂的结构演变提供实时有效的信息,通过测试高电平和低电平时的差分X‑射线吸收谱,获取电化学调制X‑射线吸收谱,比现有技术分别测试高低电平下XAS再做差分的方法,获得更高信噪比的实验数据。
公开日期2021
源URL[http://ir.ihep.ac.cn/handle/311005/298086]  
专题高能物理研究所_多学科研究中心
作者单位中国科学院高能物理研究所
推荐引用方式
GB/T 7714
余灿,张静,黄换,等. 原位X-射线吸收谱测试装置、方法. CN113848221. 2021-01-01.

入库方式: OAI收割

来源:高能物理研究所

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