一种纳米级波带片成像分辨率测试的方法及装置
文献类型：专利
| 作者 | 王山峰 ; 袁清习; 张凯; 黄万霞
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| 发表日期 | 2020 |
| 专利号 | CN111721784 |
| 著作权人 | 中国科学院高能物理研究所 |
| 文献子类 | 发明专利 |
| 英文摘要 | 本发明公开了一种纳米级波带片成像分辨率测试的方法及装置。本装置包括X射线光源、聚焦镜、标准分辨率板和成像探测器；其中，根据待测波带片的设计分辨率，选择匹配的成像探测器放置在该待测波带片的像平面上；根据该待测波带片的设计分辨率，选择匹配的标准分辨率板并将其放置在该待测波带片的物平面上；所述X射线光源用于经所述聚焦镜照明该标准分辨率板，透过该标准分辨率板的光线经该待测波带片成像于所述成像探测器。本装置可以最直观的检测成像波带片的分辨率和分析其衍射效率。 |
| 公开日期 | 2020 |
| 源URL | [http://ir.ihep.ac.cn/handle/311005/298240]  |
| 专题 | 高能物理研究所_多学科研究中心 |
| 作者单位 | 中国科学院高能物理研究所 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 王山峰,袁清习,张凯,等. 一种纳米级波带片成像分辨率测试的方法及装置. CN111721784. 2020-01-01. |
入库方式： OAI收割
来源：高能物理研究所
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