一种用于X射线原位实时探测增材制造机理研究的探测系统及方法
文献类型：专利
| 作者 | 孙大睿 ; 张兵兵; 余灿; 陶冶
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| 发表日期 | 2020 |
| 专利号 | CN111257356 |
| 著作权人 | 中国科学院高能物理研究所 |
| 文献子类 | 发明专利 |
| 英文摘要 | 本发明公开了一种用于X射线原位实时探测增材制造机理研究的探测系统及方法。本系统包括一增材制造腔体和X射线探测器装置；该增材制造腔体安装在一第一运动调节装置上；该增材制造腔体内设有一第二运动调节装置、样品床；该第二运动调节装置位于该增材制造腔体的底部，该第二运动调节装置上设有一安装座，该样品床安装在该安装座上；该增材制造腔体上开设一入射窗口，用于将能量源产生的激光或电子束通过该入射窗口入射到该样品床上的增材制造材料上，进行增材制造；该增材制造腔体上开设一X射线入射窗口和一X射线出射窗口，X射线源产生的X射线依次通过该X射线入射窗口、该样品床、该X射线出射窗口入射到该X射线探测装置，进行信号探测。 |
| 公开日期 | 2020 |
| 源URL | [http://ir.ihep.ac.cn/handle/311005/298273]  |
| 专题 | 高能物理研究所_多学科研究中心 |
| 作者单位 | 中国科学院高能物理研究所 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 孙大睿,张兵兵,余灿,等. 一种用于X射线原位实时探测增材制造机理研究的探测系统及方法. CN111257356. 2020-01-01. |
入库方式： OAI收割
来源：高能物理研究所
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