K边成像方法
文献类型：专利
| 作者 | 张志都; 王哲 ; 魏存峰; 王燕芳; 许琼; 李默涵; 程志威; 魏龙
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| 发表日期 | 2019 |
| 专利号 | CN110006932 |
| 著作权人 | 中国科学院高能物理研究所 |
| 文献子类 | 发明专利 |
| 英文摘要 | 本发明涉及成像技术领域，提出一种K边成像方法。该K边成像方法包括获取探测器的能量分辨率，并根据所述能量分辨率确定高斯卷积核；获取理论衰减系数曲线；根据所述高斯卷积核以及理论衰减系数曲线得到第一平滑衰减系数曲线；根据所述第一平滑衰减系数曲线结合能窗内光谱信息得到第二平滑衰减系数曲线；根据所述第二平滑衰减系数曲线选定能窗位置。在选择能窗位置时考虑到了探测器的能量分辨率以及能窗内光谱信息的影响，能够在不同的能窗宽度需求下、较好的选择衰减系数差异最大的能窗位置，从而尽可能大的利用K吸收边的差异进行减影成像，获得最优的图像质量。 |
| 公开日期 | 2019 |
| 源URL | [http://ir.ihep.ac.cn/handle/311005/298364]  |
| 专题 | 高能物理研究所_核技术应用研究中心 高能物理研究所_多学科研究中心 |
| 作者单位 | 中国科学院高能物理研究所 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 张志都,王哲,魏存峰,等. K边成像方法. CN110006932. 2019-01-01. |
入库方式： OAI收割
来源：高能物理研究所
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