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光栅外差干涉系统及其滚转角测量方法

文献类型:专利

作者汤善治; 李明; 盛伟繁; 王赫影
发表日期2018
专利号CN108775878
著作权人中国科学院高能物理研究所
文献子类发明专利
英文摘要本发明公开一种光栅外差干涉系统,属于激光精密测量技术领域。该系统包括设置于待测量对象的第一侧的激光源、偏振分光棱镜、反射器、角锥棱镜、第一波片和第二波片;设置于所述待测量对象上的第一光栅和第二光栅;以及设置于所述待测量对象的第二侧的平面反射镜组。
公开日期2018
源URL[http://ir.ihep.ac.cn/handle/311005/298443]  
专题高能物理研究所_多学科研究中心
作者单位中国科学院高能物理研究所
推荐引用方式
GB/T 7714
汤善治,李明,盛伟繁,等. 光栅外差干涉系统及其滚转角测量方法. CN108775878. 2018-01-01.

入库方式: OAI收割

来源:高能物理研究所

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