正电子湮没寿命谱测量方法和系统
文献类型:专利
作者 | 王宝义![]() ![]() ![]() ![]() ![]() |
发表日期 | 2018 |
专利号 | CN108107465 |
著作权人 | 中国科学院高能物理研究所 |
文献子类 | 发明专利 |
英文摘要 | 本公开涉及核谱学技术领域,公开正电子湮没寿命谱测量方法。该方法包括:接收第一判选信号和第二判选信号通过幅值判别得到第一起始信号和第二起始信号;将第一起始信号与第二起始信号进行或运算生成触发信号;响应触发信号在设定时间内接收第一探测信号和第二探测信号;判断第一探测信号的幅值及第二探测信号的幅值与第一幅值及第二幅值的匹配情况得到第一判断结果及第二判断结果,并计算第一探测信号与第二探测信号之间的第一时间差及第二时间差;据第一判断结果并统计第一时间差获得第一寿命图谱,据第二判断结果并统计第二时间差获得第二寿命图谱,将第一寿命图谱与第二寿命图谱叠加得到正电子湮没寿命谱。使用该方法提高探测信号的利用率。 |
公开日期 | 2018 |
源URL | [http://ir.ihep.ac.cn/handle/311005/298489] ![]() |
专题 | 高能物理研究所_多学科研究中心 高能物理研究所_核技术应用研究中心 |
作者单位 | 中国科学院高能物理研究所 |
推荐引用方式 GB/T 7714 | 王宝义,韩振杰,刘福雁,等. 正电子湮没寿命谱测量方法和系统. CN108107465. 2018-01-01. |
入库方式: OAI收割
来源:高能物理研究所
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