一种X射线微分相位衬度显微镜系统及其二维成像方法
文献类型：专利
| 作者 | 朱佩平 ; 张凯; 袁清习; 黄万霞; 朱中柱
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| 发表日期 | 2018 |
| 专利号 | CN107664648 |
| 著作权人 | 中国科学院高能物理研究所 |
| 文献子类 | 发明专利 |
| 英文摘要 | 本发明公开了一种X射线微分相位衬度显微镜系统及其二维成像方法，所述X射线微分相位衬度显微镜系统包括：用于产生X射线的光源；以及沿X射线传播方向依次设置的聚光镜、中心光阑、分束光栅、针孔、样品台、物镜、环形分析光栅和成像探测器。本发明的有益效果是：该X射线微分相位衬度显微镜系统，仅在传统的X射线显微镜中增加分束光栅和环形分析光栅，就能实现相位衬度定量成像，具有结构简单、易于推广的优点。另外，可以将X射线光源、聚光镜、分束光栅集成为一个X射线环形栅源元件，则整个X射线微分相位衬度显微镜系统长度可以进一步缩短，不仅可以降低X射线显微镜系统的制造成本，而且光的利用效率也能进一步提高。 |
| 公开日期 | 2018 |
| 源URL | [http://ir.ihep.ac.cn/handle/311005/298512]  |
| 专题 | 高能物理研究所_多学科研究中心 |
| 作者单位 | 中国科学院高能物理研究所 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 朱佩平,张凯,袁清习,等. 一种X射线微分相位衬度显微镜系统及其二维成像方法. CN107664648. 2018-01-01. |
入库方式： OAI收割
来源：高能物理研究所
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