用于正电子断层成像的方法和图像重建方法及系统
文献类型：专利
| 作者 | 孙校丽 ; 刘双全; 贠明凯; 高娟; 李默涵; 章志明; 魏龙; 王骏飞; 刘志蓉; 韩强强
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| 发表日期 | 2017 |
| 专利号 | CN107260194 |
| 著作权人 | 山西锦地裕成医疗设备有限公司 ; 中国科学院高能物理研究所 |
| 文献子类 | 发明专利 |
| 英文摘要 | 本申请涉及用于正电子断层成像的方法和图像重建方法及系统。用于获得晶体阵列的光子入射响应分布的方法包括：将所述晶体阵列的各晶体条基于入射面连续等分为多个入射部分；将入射角度范围等分为多个角度部分；对各个入射部分及各个角度部分，利用模拟软件进行光子入射模拟，得到响应占比。根据本公开的方法，充分考虑伽马光子入射晶体条的角度和位置因素，生成的系统矩阵精确度高，能够提高PET系统的空间分辨率。 |
| 公开日期 | 2017 |
| 源URL | [http://ir.ihep.ac.cn/handle/311005/298534]  |
| 专题 | 高能物理研究所_核技术应用研究中心 高能物理研究所_多学科研究中心 |
| 作者单位 | 中国科学院高能物理研究所 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 孙校丽,刘双全,贠明凯,等. 用于正电子断层成像的方法和图像重建方法及系统. CN107260194. 2017-01-01. |
入库方式： OAI收割
来源：高能物理研究所
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