正电子发射断层扫描仪深度效应校正方法及其系统
文献类型：专利
| 作者 | 单保慈 ; 刘双全; 葛红红; 孙校丽; 贠明凯; 高娟; 李默涵; 柴培; 章志明; 王骏飞
|
| 发表日期 | 2016 |
| 专利号 | CN105361901 |
| 著作权人 | 山西锦地裕成医疗设备有限公司 ; 中国科学院高能物理研究所 |
| 文献子类 | 发明专利 |
| 英文摘要 | 本发明公开了一种正电子发射断层扫描仪深度效应校正方法及其系统。该校正方法包括：建立多层晶体响应线模型；获取PET探测器输出的实际符合事例数据；根据多层晶体响应线模型，对实际符合事例数据进行扩展，生成扩展响应线数据；以及根据扩展响应线数据，确定校正响应线数据。通过本发明的深度效应校正方法，对探测器为单层晶体或较少晶体层数的PET数据进行深度效应校正后，重建出的图像空间位置定位更准确，图像径向和切向空间分辨率都有了很大提高，图像质量明显改善，并且可以达到与硬件上为多层晶体的PET数据基本相同的重建效果。 |
| 公开日期 | 2016 |
| 源URL | [http://ir.ihep.ac.cn/handle/311005/298667]  |
| 专题 | 高能物理研究所_核技术应用研究中心 高能物理研究所_多学科研究中心 |
| 作者单位 | 中国科学院高能物理研究所 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 单保慈,刘双全,葛红红,等. 正电子发射断层扫描仪深度效应校正方法及其系统. CN105361901. 2016-01-01. |
入库方式： OAI收割
来源：高能物理研究所
浏览0
下载0
收藏0
其他版本
除非特别说明，本系统中所有内容都受版权保护，并保留所有权利。